小直徑薄壁管超聲波接觸法檢測(cè)

小直徑薄壁管超聲波接觸法檢測(cè)是指探頭通過(guò)薄層耦合介質(zhì)與鋼管直接接觸進(jìn)行檢測(cè)的方法。這種方法一般為手工檢測(cè)，檢測(cè)效率低，但設(shè)備簡(jiǎn)單，操作方便，機(jī)動(dòng)靈活性強(qiáng)。適用于單件小批量及規(guī)格多的情況。

接觸法檢測(cè)小口徑管時(shí)，由于其管徑小，曲率大，，常規(guī)橫波斜波探頭與管材接觸面小，耦合不良，波束嚴(yán)重?cái)U(kuò)散，靈敏度低。為了改善耦合條件，常將探頭有機(jī)玻璃斜楔加工成與管材表面相吻合的曲面。為了提高檢測(cè)靈敏度，可以采用接觸聚焦探頭來(lái)檢測(cè)。

在實(shí)際檢測(cè)中有機(jī)玻璃斜楔在檢測(cè)過(guò)程中磨損較大，斜楔磨損后會(huì)引起入射角變化，使檢測(cè)靈敏度降低，所以應(yīng)在檢測(cè)是增加校準(zhǔn)的次數(shù)。

縱向缺陷檢測(cè)

1.試塊：檢測(cè)縱向缺陷的對(duì)比試塊應(yīng)選取與被檢鋼管規(guī)格相同，材質(zhì)、熱處理工藝和表面情況相同或相似的鋼管制備。對(duì)比試塊不得有大于或等于2mm當(dāng)量的自然缺陷。對(duì)比試塊的長(zhǎng)度應(yīng)滿足檢測(cè)方法和檢測(cè)設(shè)備要求。

2.探頭：檢測(cè)縱向缺陷的斜探頭，應(yīng)進(jìn)行加工使之與工件表面吻合良好。探頭壓電晶片的長(zhǎng)度或直徑不大于25mm。

3.靈敏度調(diào)節(jié)：把探頭置于對(duì)比試塊上作周向掃查檢測(cè)，然后將試塊上內(nèi)壁尖角槽的最高回波調(diào)至滿幅度80%，再移動(dòng)探頭找到外壁尖角槽的最高回波，二者波峰的連線為距離一波幅曲線，作為基準(zhǔn)靈敏度。一般在基準(zhǔn)靈敏度的基礎(chǔ)上提高6dB作為掃查林敏度。

4.掃查：探頭沿徑向按螺旋線進(jìn)行掃查。具體掃查方式有四種：一是探頭不動(dòng)，管件旋轉(zhuǎn)的同時(shí)作周向移動(dòng)；二是探頭作軸向移動(dòng)，管材轉(zhuǎn)動(dòng)；三是管材不動(dòng)，探頭沿螺旋線運(yùn)動(dòng)；四是探頭旋轉(zhuǎn)，管材作軸向移動(dòng)。

橫向缺陷檢測(cè)

1.試塊：檢測(cè)橫向缺陷用的對(duì)比試塊，同樣應(yīng)選用與被檢管材規(guī)格相同，材質(zhì)、熱處理及表面狀態(tài)相同或相似的管材制成。

2.探頭：檢測(cè)橫向缺陷的探頭，應(yīng)進(jìn)行加工使之與工件表面吻合良好。探頭的晶片長(zhǎng)度或直徑不大于25mm。

3.靈敏度調(diào)節(jié)：對(duì)于只有外表面人工缺陷的試塊，可直徑將對(duì)比試塊上的人工缺陷最高回波調(diào)至50%作為基準(zhǔn)靈敏度。

4.掃查檢測(cè)：探頭沿軸向按螺旋線進(jìn)行掃查，以使聲束在管壁內(nèi)沿軸向呈鋸齒形傳播。